Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie X

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie X

Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1

• Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
• Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
• L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
• Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
• Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.

Modelli di supporto

• Apple iPhone X/XS/XS Max

Specifiche

• Marca: XINZHIZAO
• Modello: supporta la serie iPhone X
• Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
• Materiale: lega di alluminio
• Peso lordo: 500 g

Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1

• Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
• Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
• Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
• Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati